YD/T 2342-2011 通信用光电子器件可靠性试验方法

YD/T 2342-2011.Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications. 1范围 YD/T 2342规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一-般要求和详细要求，包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。 YD/T 2342适用于通信用光电子器件，包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块，简称“光电子器件”。其他领域的光电子器件也可参照使用。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注8期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 19001-2008质量管理体系一要求 (ISO 9001-2008，IDT) GB/T 21194-2007通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求 3术语和定义 GB/T 21194- 2007 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 光电子器件Optoelectronic Device 具有光电特性的元件。 3.2 试样Specimen 用作可靠性试验的光电子器件样品。 3.3 失效Failure 光电子器件达不到规定的光电参数和/或物理参数时，称为失效。 3.4 失效判据Failure Criterion 判定光电子器件失效的依据。