YDB 122.1-2013 通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HC1)测试方法 第1部分:终端特性

YDB 122.1-2013.Test method for UICC-CLF HCI protocol Part1:Terminal features. 1范围 YDB 122.1规定了通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间的主控接口(HCI) 终端特性的测试方法，包含HCI的结构、HCP、 指令、端口、HCI流程、非接触卡的模拟、非接触读卡器和连接特性。 YDB 122.1适用于支持HCI技术的终端。本部分的测试流程适用范围中声明仅适用于主机控制器的测试流程可参考用于支持HCI技术的终端的测试。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注8期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 YDB 121-2013通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI) 技术要求 YDB 119-2013通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP) 技术要求 IS0/IEC14443-3识别卡-非接触结成电路卡-感应卡-第3部分:初始化和防碰撞( Identificat ion cards -Contactless integrated circuit cards-Proximity cards-Part 3: Initialization and anticollision) 3术语、定义和缩略语 3.1术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1.1 端口gate 一台主机内某个服务的接入点。