YDB 122.2-2013 通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法 第2部分:UICC特性

YDB 122.2-2013.Test method for UICC-CLF HCI protocol Part2:UICC features. 1范围 YDB 122.2规定了通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间的主控接口(HCI) UICC特性的测试方法，包括HCI构架、指令、HCI. 上的命令/事件、端口和HCI规程。 YDB 122.2适用于支持HCI技术的UICC卡。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 YDB 121-2013 通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)技术要求 YDB 119-2013 通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)技术要求 IS0/IEC14443-3 识别卡-非 接触结成电路卡-感应卡第3部分:初始化和防碰撞( Identificat ioncards - Contactless integrated circuit cards -- Proximity cards-Part3: Initialization and anticollision) IS0/IEC14443-4 识别卡-非 接触结成电路卡-感应卡-第4部分:传输协议( Identificat ion cards Contactless integrated circuit cards -- Proximity cards- - Part 4:Transmission protocol) 3术语、定义和缩略语 3.1术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1.1 端口gate