行业标准

CB/T 3988-2008 Drain plug in deck house.范围CB/T 3988规定了甲板室放水塞试验方法、检验规则及标志。CB/T 3988适用于放水塞的设计、制近机验收。4.2尺...

CB/T 3997-2008.1范围CB/T 3997规定了采用遮光原理的自动颗粒计数带衡定油液中固体颗粒污染等级的仪器设备和材料要求、检测方法和程序、检测...

CB/T 3990-2007 AutoCAD drawing regulation for ship engineering.1范围CB/T 3990规定了基于AutoCAD软件的计算机辅助设计制图的一般规则。CB/T 3990适用于民用船舶...

CB/T 3987-2008 Dumping hole cover.1范围CB/T 3987规定了扫舱孔盖的分类、要求试验万法、标志、包装和运输等。CB/T 3987适用于扫舱孔盖的设计中造配验...

CB/T 3986-2008 Draft ladder.1范围CB/T 3986规定了读吃水梯的分类、要求试验万法、 检验规则、标志、包装和贮存。CB/T 3986适用于读吃水梯的设计制...

SJ/T 2658.8-2015.Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 8: Radiant intensity.1范围SJ/T 2658.8规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)辐射...

SJ/T 2658.7-2015.Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 7: Radiant flux.1范围SJ/T 2658.7规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)辐射通...

SJ/T 2658.6-2015.Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 6: Radiant power.1范围SJ/T 2658.6规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)辐射功...

SJ/T 2658.5-2015.Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 5:Series connection resistance.前言SJ/T 2658《半导体红外发射二极管测量方法》已经或...

SJ/T 2658.4-2015.Measuring method for semiconductor infrared- emitting diode-Part 4: Total capacitance.1范围SJ/T 2658.4规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)总...