GB/T 17360-2020 微束分析 钢中低含量硅 、锰的电子探针定量分析方法

GB/T 17360-2020.Microbeam analysis-Method of quantitative determination for low contents of silicon and manganese in steels using electron probe microanalyzer. 1范围 GB/T 17360规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢(铁质量分数大于95%)中硅、锰含量的校准曲线法。 GB/T 17360适用于电子探针波谱仪,不适用于能谱仪。带波谱仪的扫描电镜可以参照使用。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 4930微束分析电子探针分析 标准样 品技术条件导则 GB/T 13298金 属显微组织检验方法 GB/T 15074电子探针定量分析方法通则 GB/T 15247-2008微束分析 电子探针显 微分析-测定 钢中碳含量的校正曲线法 GB/T 20725波谱法定性点分析电子探针显微分析导则 GB/T 21636微束分析电子探针显微分析(EPMA)术语 GB/T 27025检测和校准实验室能力的通用要求 3术语和定义 GB/T 21636界定的以及下列术语和定义适用于本文件。为了便于使用，以下重复列出了GB/T 21636中的某些术语和定义。 3.1 特征X射线强度比 intensity ratio of characteristic X-ray 在相同的激发条件(入射电子束能量、电流等)和接收条件(谱仪效率等)下,在含有某元素A的试样上测得的A元素的特征峰强度I与在纯A参考物质上测得的同一特征峰的强度Ipure 的比值k:k=I/Ipureo 注:改写GB/T 21636-2008,定义5.4.4。 3.2 脉冲高度分析器 pulse height analyzer 波谱仪中可以甄别有相同衍射位置而能量不同的X射线光子的检测装置。 注:改写GB/T 21636-2008,定义4.6.12. 3.3 校准曲线 calibration curves 分析信号与分析物浓度的函数关系的一种作图方法,一般通过测量两个以上不同含量的已知参考物质成分点来确定。 [GB/T 21636-2008,定义5.4.1.2]