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SJ/T 2658.9规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)辐射强度空间分布和半强度角的测量原理图、测量步骤以及规定条件。...
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SJ/T 10739规定了半导体集成电路MOS随机存储器(以下简称器件)静态参数、动态参数和功能测试方法的基本原理。...










