QB/T 1912-1993 眼镜架金属镀层厚度测试方法X荧光光谱法

QB/T 1912-1993. 1主题内容与适 用范围 QB/T 1912规定了眼镜架金属镀层厚度的非接触式、无损测试方法(X荧光光谱测试法)的测试原理、仪器设备、标准样品、试样、测试程序、测试不确定度及试验报告。 QB/T 1912适用于定量测试眼镜架金属镀层的厚度。 2术语 2.1 X射线荧光X ray fluorescent高强度入射的X射线照射在物体上，使被照射物体产生特定能量的二次辐射。其能量特征与被射物的元素组成有关。 2.2 辐射强度intensity of radiation指测试仪显示的辐射计数率，即单位时间探测器接收的辐射的辐射脉数(cps)。 2.3饱和厚度satuzation thickness在一定条件下，被测材料的荧光辐射强度不再随材料厚度的增加而变化的最小厚度。 2.4 能量色散Energy dispersion用能量分析器将镀层或基体产生的二次辐射能量分离。波长与其等效能量关系为: 式中: λ--波长，nm; E---能量，kev. 3测试原理 以一束强而狭窄的X射线射到镀层与基体上即产生不同能量的X射线荧光。这些荧光具有构成镀层和基体所含的元素特性。当镀层厚度不大于饱和厚度时，其厚度与所产生的X荧光强度有一定关系， 即镀层发出的X荧光强度随镀层厚度的增加而增加:由基体发出的X荧光强度随镀层厚度的增加而减小。 5标准样品 5.1标准样 品的镀层应均匀-致，清洁平整，且与标称值的误差不大于5%. 5.2.标准掸品的X荧光辐射特性应与待测试样的特性相同。 6试样 6.1镀层表面应洁净无腐蚀。 6.2基体厚度应不小于 饱和厚度。 7测试程序 7.1按标准样品建立工作曲线。 7.2 试样测试 7.2.1 测试点数及位置 测5点:鼻梁正面当中一点，左右正面镜圈下缘各一点，左右正面镜腿各一点。 7.2.2保持试样的被测面与试样台相对平行。 7.2.3测试距离必须调整到聚焦最清晰为止。 7.2.4准直器孔径必须与试样形状和尺寸相匹配。 7.2.5 测试时间:每点不小于20s. 7.3将测试结果填入测试报告。 8测试的不确定度 测试的不确定度应小于10%。 9测试报告